銷售AsahiSpectra朝日分(fēn)光、光學式膜厚計
在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一(yī)部分(fēn)在膜的表面反射，另一(yī)部分(fēn)透進薄膜，然後在膜與底層 （wafer或glass）之間的界面反射。
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義烏市瑟宜貿易有限公司
胡經理
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光學式膜厚計OMD-1000
自動濾光器 FC8-25A、FC32-25A
測量原理如下(xià)：在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一(yī)部分(fēn)在膜的表面反射，另一(yī)部分(fēn)透進薄膜，然後在膜與底層 (wafer或glass)之間的界面反射。這時薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光産生(shēng)幹涉現象。SpectraThick series就是利用這種幹涉現象來測量薄膜厚度的儀器。
以前的機型的波長選擇是過濾式，但是新産品在本公司加入有實績的分(fēn)光器，可以選擇任意的波長。膜厚變化的信号從電(diàn)壓輸出到電(diàn)腦對應的數字輸出，控制機構從手冊操作成爲通過電(diàn)腦的命令控制。另外(wài)，通過I / F直接與電(diàn)腦直接連接膜厚計，并沒有其他制造商(shāng)的控制器等，是非常緊湊的系統。
特長
本體(tǐ)構成と配線
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