榮進化學EISHIN滲透試片ASME型

榮進化學EISHIN滲透試片ASME型

榮進化學EISHIN滲透試片ASME型

滲透試片JIS1型,ISO1型,JIS2型,ISO2型,JIS3型,ASME鋁試件

滲透測試面闆TAM型；磁粉探傷用标準試片JIS Z 2320-1,JIS A型,JIS C型

超聲波探傷用标準試件JIS Z 2345-1,JIS Z 2345-4,G型,N1型,A1型,A2型,A3型

Hoffman TAM 面闆是一(yī)種滲透測試面闆，用于 ASTM E 1417 定義的系統檢查。它已獲得普惠公司（TAM146040）和勞斯萊斯公司（RRP-58003）的認可，并因其高質量和可靠性而被世界各地的航空相關公司所使用。您可以選擇兩種類型：P&W TAM 146040-1 Polish（具有鏡面表面）和 P&W TAM 146040-2 Grit（具有噴砂表面）。标配 5 種說明圖案中(zhōng)每一(yī)種的單獨照片、帶有整個面闆照片的測試報告（實際尺寸照片）以及帶有特殊泡沫的透明盒。

TAM面闆是根據 ASTM E 1417标準使用的特定測試面闆。ASTM E 1417是 ASTM International（美國測試與材料協會）發布的名爲“液體(tǐ)滲透測試标準技術"的标準。本标準提供了使用液體(tǐ)滲透檢測方法檢查材料的指南(nán)。

TAM代表“測試附件材料"，TAM面闆通常用于評估液體(tǐ)滲透劑檢測表面缺陷和異常區域的靈敏度和性能。這些面闆有助于評估和鑒定滲透性材料。

JIS A型、C型标準試件是評價磁粉探傷性能和檢測金屬零件和結構表面微小(xiǎo)缺陷和裂紋的工(gōng)具，是提高檢測結果準确性的技術。

通過使用試件，可以客觀地評價磁粉探傷的靈敏度和準确性。還可以研究影響磁粉檢測性能的因素。例如，對所使用的裝置的性能、磁粉、試驗液體(tǐ)、磁場的強度和方向、試驗操作的充分(fēn)性等進行評價。

A型标準樣本用于可靠地指示特定缺陷的方向。如果缺陷在特定方向，則磁性顆粒的圖案将是特定圖案。通過清晰地顯示該圖案，可以保持探傷的準确性。在測試片中(zhōng)，調整磁化方法、磁化電(diàn)流的值、磁性粒子的施加方法、測試液體(tǐ)中(zhōng)磁性粒子的濃度等。

該樣本由一(yī)塊純鐵制成，一(yī)側有凹槽。試件根據槽深、闆材材質、厚度等分(fēn)爲多種類型。

超聲波探傷用标準試件（JIS Z 2345-1～JIS Z 2345-4）概述：

測量反射體(tǐ)位置所需的時基和測量範圍的調整：用試樣調整超聲波探傷儀的時基，以精确測量反射體(tǐ)的位置。此外(wài)，通過适當調整測量範圍，優化探傷範圍。

反射器回波高度測量和缺陷靈敏度調整的必要調整：使用樣本，調整超聲波探傷儀設置以準确測量反射器的回波高度。另外(wài)，通過調整探傷靈敏度，可以更可靠地檢測微小(xiǎo)的缺陷和異常。

探傷儀的特性和性能的檢驗以及探傷儀檢驗所需的性能特性的測量：使用試件，檢查超聲波探傷儀的特性和性能，以确認其功能是否正常。性能特征測量用于評估設備性能并根據需要進行調整或維修。