HED型Wafer/ESD/TCP試驗機阪和電(diàn)子工(gōng)業 本裝置能夠測量以往TLP無法覆蓋的高電(diàn)壓、大(dà)電(diàn)流特性，在獲取、分(fēn)析高耐壓元件的動作參數上發揮作用。
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模拟靜電(diàn)CDM試驗機HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業 是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放(fàng)電(diàn)電(diàn)路的單元來支持國内外(wài)的規格測試。可以測量設備各端子容量。測量數據可以作爲文本文件保存。
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高性能靜電(diàn)破壞試驗裝置HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業 全自動靜電(diàn)破壞裝置的高功能版登場 可以進行符合标準的測試（JEDEC、ESDA、AEC及JE的。短路使電(diàn)感和電(diàn)容對數據的影響小(xiǎo)化。 此外(wài)，通過使用單一(yī)電(diàn)路，可以保證被測試的各調試數據的穩定性。
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