模拟靜電(diàn)CDM試驗機HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放(fàng)電(diàn)電(diàn)路的單元來支持國内外(wài)的規格測試。可以測量設備各端子容量。測量數據可以作爲文本文件保存。
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模拟靜電(diàn)CDM試驗機HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
模拟靜電(diàn)CDM試驗機HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
CDM試驗機 型号：HED-C5000R
是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）通過更換放(fàng)電(diàn)電(diàn)路的單元來支持國内外(wài)的規格測試。可以測量設備各端子容量。測量數據可以作爲文本文件保存。
CDM試驗機 型号：HED-CB5000
是一(yī)種模拟半導體(tǐ)器件上插有印刷電(diàn)路闆和模塊的靜電(diàn)向接地等放(fàng)電(diàn)現象的測試裝置。充放(fàng)電(diàn)現象采用了與面向半導體(tǐ)器件的CDM試驗相同的試驗。
全自動Wafer ESD測試儀 型号：HED-W5300D
WaferESD測試儀HED-W5300D比以往的産品HED-W5100D進化得更厲害，可以自動控制搭載Wafer的階段。
即使是300mm級别的Wafer，隻要将Wafer放(fàng)在舞台上，就可以簡單地進行測定。
工(gōng)作效率肯定會大(dà)幅提高。
另外(wài)，和以前的産品一(yī)樣，可以對一(yī)般的包裝品進行試驗。
全自動Wafer ESD測試儀 型号：HED-W5100D
從LED用到系統LSI的大(dà)口徑Wafer，可以應用HBM和MM。
施加ESD後，也可以通過V/I測量進行破壞判定。此外(wài)，還可與ESD測試等TLP測試裝置同時使用。對于ESD測試中(zhōng)出現問題的設備，有效地獲得保護電(diàn)路的動作參數。
是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規格對應）
高性能Manual Wafer ESD測試儀 型号：HED-W5000M
高性能Manual Wafer ESD測試儀
操作機器人，可以簡單地對準2針之間的位置。
施加脈沖後，可以通過Vf/Im測量進行破壞判定。
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