高性能靜電(diàn)破壞試驗裝置HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
全自動靜電(diàn)破壞裝置的高功能版登場
可以進行符合标準的測試（JEDEC、ESDA、AEC及JE的。短路使電(diàn)感和電(diàn)容對數據的影響小(xiǎo)化。
此外(wài)，通過使用單一(yī)電(diàn)路，可以保證被測試的各調試數據的穩定性。
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高性能靜電(diàn)破壞試驗裝置HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
高性能靜電(diàn)破壞試驗裝置HANWA阪和電(diàn)子工(gōng)業
靜電(diàn)破壞裝置，型号HED-G5000
全自動靜電(diàn)破壞裝置的高功能版登場
可以進行符合标準的測試（JEDEC、ESDA、AEC及JE 的。短路使電(diàn)感和電(diàn)容對數據的影響小(xiǎo)化。
此外(wài)，通過使用單一(yī)電(diàn)路，可以保證被測試的各調試數據的穩定性。
全自動靜電(diàn)破壞裝置，型号：HED-S5000R-D
全自動靜電(diàn)破壞裝置的常規
是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（支持JEITA/ESDA/JEDEC标準）支持鎖存測試，可支持脈沖電(diàn)流法、電(diàn)源過電(diàn)壓、ESD脈沖施加法。
靜電(diàn)破壞裝置，型号HED-S5000R
可以簡單地判定破壞。可根據測試銷數和測量用途選擇機型。
高性能版靜電(diàn)破壞裝置 型号：HED-N5000-DCPC
多引腳高性能全自動靜電(diàn)破壞裝置
多可以測試8個設備。大(dà)測量銷數1024針。雖然有限制，但也可以同時應用多個。是與日本、海外(wài)的規格對應的可靠性高的裝置。（支持JEITA/ESDA/JEDEC規格）支持鎖存測試，可應對脈沖電(diàn)流法、電(diàn)源過電(diàn)壓法、ESD施加法。可以進行基于DC測量的破壞判定、作爲選項利用圖案輸入的功能測試。
緊湊型試驗器型号：HCE-5000
便攜式試驗器型号：HPE-5000
便攜式ESD測試儀
本産品是測量半導體(tǐ)部件對靜電(diàn)的破壞強度的裝置。作爲可攜帶的小(xiǎo)型ESD試驗機的姐妹機，實現了更輕、更大(dà)、更低的價格。
與以往的小(xiǎo)型ESD試驗器一(yī)樣，通過專門應用2針，可以維持與通用裝置同等的基本性能（通過施加ESD和洩漏測量的破壞判定）。
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