正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統 通過自動重複使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一(yī)系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構
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正規代理hitachi日立聚焦離(lí)子束系統 新型電(diàn)子光學系統，可達到世界高水準的SIM像分(fēn)辨率・大(dà)束流使加工(gōng)速度得以提升・提高了低加速電(diàn)壓的分(fēn)辨率，使得高品質TEM樣品制備成爲可能
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進口優質hitachi日立環境型原子力顯微鏡 一(yī)款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大(dà)氣中(zhōng)、真空中(zhōng)、溶液中(zhōng)等環境中(zhōng)進行測量
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優質正品hitachi日立透射電(diàn)子顯微鏡 日立*的雙隙物(wù)鏡設計，支持低倍率下(xià)的大(dà)視野高反差觀察與高分(fēn)辨率觀察
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原廠正品hitachi日立氩離(lí)子研磨儀 是日立離(lí)子研磨儀的高性能機型。它實現了超高速截面研磨。高效率截面加工(gōng)功能，使電(diàn)鏡截面觀察時樣品加工(gōng)更簡單。
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正品原廠hitachi日立高分(fēn)辨場發射掃描電(diàn)鏡 采用電(diàn)子束在Flashing後出現的高亮度穩定區域作爲穩定觀察的區間，使得低加速電(diàn)壓條件下(xià)兼備高分(fēn)辨觀察和分(fēn)析的性能
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正規銷售hitachi日立掃描電(diàn)子顯微鏡 隻有45厘米寬的緊湊型設計，實現了4.0 nm的分(fēn)辨率。全新開(kāi)發的用戶界面和電(diàn)子光學系統，使性能大(dà)幅提升。
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原廠正品日本hitachi日立台式電(diàn)鏡 畫質更加清晰，操作更加便捷，觀看更加直觀。TM4000系列搭載新技術，可滿足“更好”的觀察需求。台式SEM應用範圍更廣，助力您的事業發展。
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