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進口優質hitachi日立環境型原子力顯微鏡電(diàn)子顯微鏡

簡要描述：

進口優質hitachi日立環境型原子力顯微鏡
一(yī)款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大(dà)氣中(zhōng)、真空中(zhōng)、溶液中(zhōng)等環境中(zhōng)進行測量

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進口優質hitachi日立環境型原子力顯微鏡

AFM5300E是一(yī)款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大(dà)氣中(zhōng)、真空中(zhōng)、溶液中(zhōng)等環境中(zhōng)進行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物(wù)理特性的影響。

分(fēn)辨率	原子相
樣品尺寸	20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm)
樣品移動範圍	X-Y stage 5 mm
掃描範圍	标準： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環差控制）定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分(fēn)幹渉）（×2000倍）
檢測功能	AFM（接觸模式） DFM（輕敲模式） PM（相位） FFM（摩擦） MFM（磁力） SIS模式 LM-FFM（橫向摩擦） VE-AFM/DFM（粘彈性） Adhesion（吸附力） CURRENT（電(diàn)流） SSRM（擴展抵抗） SNDM（非線性介電(diàn)常數） PRM（壓電(diàn)響應）、KFM（表面電(diàn)位）液體(tǐ)中(zhōng)AFM/DFM EC-AFM/STM NanoIndentation（硬度） Nano-TA（微區加熱）