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正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統 顯微鏡/望遠鏡

簡要描述:

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統
通過自動重複使用FIB制備截面和進行SEM觀察,采集一(yī)系列連續截面圖像,并重構特定微區的三維結構

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胡經理

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統 

正品直銷hitachi日立FIB-SEM三束系統 

NX2000  NX9000

追求理想的三維結構分(fēn)析

通過自動重複使用FIB制備截面和進行SEM觀察,采集一(yī)系列連續截面圖像,并重構特定微區的三維結構。
采用理想的鏡筒布局,從先進材料、先進設備到生(shēng)物(wù)組織——在寬廣的領域範圍内實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分(fēn)析。

  • SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結構分(fēn)析理想的鏡筒布局
  • 融合高亮度冷場發射電(diàn)子槍與高靈敏度檢測系統,從磁性材料到生(shēng)物(wù)組織——支持分(fēn)析各種樣品
  • 通過選配口碑良好的Micro-sampling®系統*和Triple Beam®系統*,可支持制作高品質TEM及原子探針樣品
項目内容
SEM電(diàn)子源冷場場發射型
加速電(diàn)壓0.1 ~ 30 kV
分(fēn)辨率2.1 nm@1 kV
1.6 nm@15 kV
FIB離(lí)子源
加速電(diàn)壓0.5 ~ 30 kV
分(fēn)辨率4.0 nm@30 kV
大(dà)束流100 nA
标準探測器In-colum二次電(diàn)子探測器/In-colum背散射電(diàn)子探測器/
樣品室二次電(diàn)子探測器
樣品台X0 ~ 20 mm *2
Y0 ~ 20 mm *2
Z0 ~ 20 mm *2
θ0 ~ 360° *2
τ-25 ~ 45° *2
大(dà)樣品尺寸正方形邊長6 mm × 厚度2 mm

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